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应力双折射测量仪
折 扣 率: 0
最后更新:2026-02-27
关 注 度:5832
生产企业:北京欧屹科技有限公司
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产品详细介绍针对相位差差别比较小的样品,要求测量速度高的应用,专门开发了PA系列的产品,测量速度快是核心
型号 PA-110 PA-110-L
测量范围 0-130nm
重复性 <0.1nm
像素数 1120x868
测量波长 520nm
尺寸 310x395x605.5mm 450x538x915.5mm
观测到的最大面积 100x136mm 250x300mm
重量 18kg 24kg
数据接口 GigE(摄像机信号)   RS232C(电机控制)
电压电流 AC100-240V(50/60Hz)
软件         PA-View
       在PA系类设备的基础上,加装晶圆专用的装置,可以高效精确的测量SIC和蓝宝石这类光学性能特殊的产品的双折射和残余应力的信息。


 

 应力双折射测量仪主要特点:

操作简单,测量速度可以快到3秒。

视野范围内可一次测量,测量范围广。

更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。

具有多种分析功能和测量结果的比较。

维护简单,不含旋转光学滤片的机构。

高达2056x2464像素的偏振相机。




应力双折射测量仪应用领域:
   SIC

   蓝宝石


应力双折射测量仪技术参数: 


    项次            项目             具体参数
1  输出项目  相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】

2 测量波长 520nm

3 双折射测量范围 0-130nm

4 测量最小分辨率 0.001nm

5 测量重复精度 <0.1nm(西格玛)

6 视野尺寸 40x48mm到240x320mm(标准)

7 选配镜头视野 不适用

8 选配功能     实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制


北京欧屹科技有限公司
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会员级别:免费会员
加入时间:2017-04-26
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